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生产测试在1Xnm,节点可进行稳定高精确性量测的测试系统

爱德万测试(Advantest)宣布推出专为晶圆所开发的全新多视角量测扫描式电子显微镜(MVM-SEM)系统 E3310 ,这套系统可在各种晶圆上量测精细接脚间距图样,以Advantest的专利电子束扫描技术,实现无人能及的精确性。 E3310 承袭了Advantest光罩用多视角量测扫描式电子显微镜E3630的先进技术,可为下一代设备提供超越群伦的晶圆扫描和量测功能,而其高稳定性、高精确性的特色,更成为开发1Xnm节点制程与22nm以上节点制程芯片量产的理想解决方案,有助于缩短制程周期时间,提升芯片质量。 过去半导体技术的发展,始终遵循着摩尔定律,

通用技术将功耗成本降至一半,Achronix推出英特尔22nmFPGA

Speedster22i 的产品特性: 采用英特尔22nm技术工艺制造 仅消耗28nm高端FPGA一半的功率 成本为28nm高端FPGA的一半Speedster22i 的应用范围: 面向通信和测试应用Achronix 半导体公司今日宣布了其 Speedster22i HD和HP产品系列的细节,它们是将采用英特尔22nm技术工艺制造的首批现场可编程门阵列(FPGA)产品。Speedster22i FPGA产品是业内唯一针对应用的高端FPGA,而且仅消耗28nm高端的FPGA一半的功率,成本也仅为它的一半。Speedster22i器件是首批包括内置端到端、硬核IP接口协议功能的FPGA,主要面向通信和测试应用。Speeds

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