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[三极管]基本三极管开关之改进电路

有时候,我们所设定的低电压准位未必就能使三极管开关截止,尤其当输入准位接近0.6伏特的时候更是如此。想要克服这种临界状况,就必须采取修正步骤,以保证三极管必能截止。图6就是针对这种状况所设计的两种常见之改良电路 图6 确保三极管开关动作,正确的两种改良电路 图6(a) 的电路,在基射极间串接上一只二极管,因此使得可令基极电流导通的输入电压值提升了0.6伏特,如此即使Vin值由于信号源的误动作而接近0.6伏特时,亦不致使三极管导通,因此开关仍可处于截止状态。 图6(b)的电路加上了一只辅助-截止(hold-off)电阻R2,适

[生产测试]改进电路设计规程提高可测试性

中心议题: 改进电路设计规程提高可测试性 分析良好的可测试性的机械接触条件解决方案: 通过遵守规程可减少生产测试的费用 采用新的测试方法和采用创新性适配器解决方案随着微型化程度不断提高,元件和布线技术也取得巨大发展,例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC,以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm,这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式,对以后制作流程中的测试能否很好进行,影响越来越大。下面介绍几种重要规则及实用提示。通过遵守一定的规程(DFT-Design for Testability,可测试的设计),可以大大减少

[通用技术]改进电路设计规程提高可测试性

中心议题: 改进电路设计规程提高可测试性 分析良好的可测试性的机械接触条件解决方案: 通过遵守规程可减少生产测试的费用 采用新的测试方法和采用创新性适配器解决方案随着微型化程度不断提高,元件和布线技术也取得巨大发展,例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC,以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm,这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式,对以后制作流程中的测试能否很好进行,影响越来越大。下面介绍几种重要规则及实用提示。通过遵守一定的规程(DFT-Design for Testability,可测试的设计),可以大大减少